Bump高度、直徑、共面性在線檢測l? 凸塊（Bump）高度l? 凸塊（Bump）共面性l? 凸塊（Bump）直徑多光束共聚焦光學(xué)系統(tǒng)如果反射光線的物體表面位于與點(diǎn)光源共軛的位置，那么高速測量是不可能的。只有與單個(gè)zj共軛的單一光束測量才能實(shí)現(xiàn)。此系統(tǒng)的測量傳感器在zj陣列中擁有超過3百萬個(gè)zj點(diǎn)，能夠通過多光束系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高速測量。我們有兩個(gè)多光束共焦系統(tǒng)選項(xiàng)。一種是非掃描型(NCS)，適用于高速和更廣泛的測量范圍;另一種是掃描型(SCS)，通過應(yīng)用zj陣列的線性掃描系統(tǒng)，具有更高的檢測分辨率。光學(xué)共聚焦高度測量新機(jī)制在共焦法中，需要通過線性掃描來獲取并計(jì)算光電探測器的zd輸出。然而，通過Z級移動(dòng)進(jìn)行Z掃描的速度并不令人滿意。我們獨(dú)特的光學(xué)技術(shù)，無需Z級掃描即可實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)。通過光路上裝配不同厚度的玻璃盤，焦點(diǎn)位置會(huì)根據(jù)玻璃厚度發(fā)生變化，這種效果等價(jià)于Z軸移動(dòng)，通過旋轉(zhuǎn)玻璃盤實(shí)現(xiàn)高速的Z軸掃描，因此可以高速度獲取不同焦點(diǎn)的圖像。?配置參數(shù)Bump3D檢測系統(tǒng)10FOV(mm)13×139.9×7.49.9×9.913×1341×3315×15XY精度（um）3.02.41.Z軸范圍（um）Bump 最小直徑（um）25Bump 間距（um）55? [詳情]

核心保養(yǎng)原則防塵、防潮、防震：這是光學(xué)儀器的通用黃金法則。?輕柔操作：避免任何粗暴的觸碰，尤其是光學(xué)元件。?定期執(zhí)行：將保養(yǎng)工作制度化，形成習(xí)慣。?一、?每日保養(yǎng)（每次使用后）這部分工作應(yīng)在每日實(shí)驗(yàn)結(jié)束后進(jìn)行，為第二天的使用做好準(zhǔn)備。?清潔樣品臺：?目的：防止殘留的樣品（尤其是油性、腐蝕性物質(zhì)）污染或腐蝕臺面。?方法：?用吹氣球（皮老虎）吹去表面的灰塵和顆粒。?用專用的拭鏡紙或無塵布，蘸取少量高純度酒精（如無水乙醇或異丙醇），輕輕擦拭樣品臺表面。?對于頑固污漬，讓酒精在表面停留片刻以溶解它，然后朝一個(gè)方向輕輕擦除。?注意：切勿使用過多的酒精，以免液體流入設(shè)備內(nèi)部。?清潔光學(xué)鏡頭：?目的：確保光路的通暢和清晰，避免灰塵影響測量結(jié)果。?方法：?首先，務(wù)必使用吹氣球吹去大顆粒灰塵。直接擦拭會(huì)劃傷鏡片。?如果仍有污漬，使用干凈的拭鏡紙卷成筒，滴上少量高純度酒精，從中心向外以螺旋方式輕輕擦拭。?警告：對于內(nèi)置的、不易觸及的鏡片，除非說明書允許，否則不要自行清潔，應(yīng)交由專業(yè)人員處理。?關(guān)閉電源和光源：?先關(guān)閉測量軟件，再關(guān)閉設(shè)備電源和電腦。??覆蓋防塵罩：?采用遮光類的防塵罩，在防塵和保護(hù)設(shè)備的同時(shí)，可以屏蔽外接環(huán)境光隊(duì)測量的影響。二、?每周/每月保養(yǎng)（定期保養(yǎng)）這部分工作可以根據(jù)使用頻率調(diào)整，如果使用頻繁，應(yīng)縮短周期。?全面清潔：?對儀器外觀、屏幕、鍵盤（如有）進(jìn)行清潔。?仔細(xì)清潔所有暴露在外的光學(xué)部件，如偏振片、波片、攝像頭鏡頭等（遵循每日保養(yǎng)中的光學(xué)清潔方法）。?檢查電源線和連接線：?檢查所有電纜是否有破損、老化或接觸不良的情況。?環(huán)境檢查：?確認(rèn)儀器放置的環(huán)境是否符合要求：?溫度與濕度：是否在說明書規(guī)定的范圍內(nèi)（通常是?20-25°C，濕度?穩(wěn)定性：工作臺是否穩(wěn)固，無振動(dòng)。?潔凈度：實(shí)驗(yàn)室是否保持清潔。??三、?年度保養(yǎng)（專業(yè)性保養(yǎng)）建議由廠家或經(jīng)過認(rèn)證的專業(yè)工程師進(jìn)行。?全面校準(zhǔn)：?使用更高級別的標(biāo)準(zhǔn)件對儀器的光強(qiáng)、相位延遲測量等進(jìn)行系統(tǒng)性校準(zhǔn)，確保數(shù)據(jù)溯源性。?內(nèi)部清潔與檢查：?由工程師打開外殼，對內(nèi)部光路、電子元件進(jìn)行清潔和檢查。?光源壽命檢查：?檢查光源的亮度是否衰減，必要時(shí)進(jìn)行更換。?四、?保養(yǎng)注意事項(xiàng)（“切勿”清單）切勿用手直接觸摸光學(xué)元件：手上的油脂和汗液會(huì)永久性損壞鍍膜。?切勿對光學(xué)元件哈氣清潔：水汽會(huì)帶來雜質(zhì)并可能引起霉變。?切勿使用非指定的清潔劑：避免使用丙酮、強(qiáng)酸強(qiáng)堿等有機(jī)溶劑或腐蝕性液體。自來水、洗衣粉等更是絕對禁止。?切勿使用棉球、普通紙巾、衣角擦拭鏡頭：這些材料纖維粗糙，可能含有木質(zhì)顆粒，極易劃傷精密光學(xué)表面。?避免劇烈振動(dòng)和溫度驟變：搬動(dòng)或移動(dòng)儀器時(shí)要輕拿輕放。將儀器從寒冷環(huán)境移至溫暖環(huán)境時(shí)，應(yīng)等待其自然升溫至室溫后再開機(jī)，防止冷凝水在內(nèi)部形成。?保持環(huán)境干燥：長期在高濕度環(huán)境下使用，光學(xué)元件容易滋生霉菌。?五、?保養(yǎng)工具清單準(zhǔn)備一個(gè)專門的“保養(yǎng)工具箱”：?吹氣球（皮老虎）：工具，用于去除灰塵。?專用拭鏡紙或無塵布：確保高潔凈度、低脫落。?高純度溶劑：無水乙醇、異丙醇（純度99%以上為佳）。?乳膠手套/無粉指套：避免在操作時(shí)留下指紋。?軟毛刷：用于清掃儀器外殼和死角的浮塵 [詳情]

透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因，其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力，引起雙折射，晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理，通過對樣品的光程差的定量測定，確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。　　日本PHL公司應(yīng)力雙折射儀的原理：????????????當(dāng)光穿透具有雙折射特性的透明物質(zhì)時(shí)，光的偏光狀態(tài)會(huì)產(chǎn)生變化。換句話說，比較光穿透物體前之后的偏光狀態(tài)，即可評估物質(zhì)的雙折射。該設(shè)備裝配的偏光感應(yīng)器，使用了日本PHL公司特有的光子晶體技術(shù)組裝而成的偏光感應(yīng)器，能瞬間將偏光資訊以影像方式提取保存。再搭配專屬的演算、畫像處理軟件，能將雙折射分布數(shù)據(jù)定量化，變成可以分析的資料。用途：????????應(yīng)力儀是用來檢查透明物體內(nèi)應(yīng)力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學(xué)玻璃、光學(xué)儀器、玻璃制品、塑料制品等工業(yè)得到廣泛應(yīng)用，而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標(biāo)的檢驗(yàn)方面也占有重要地位，在水晶飾品制作、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)領(lǐng)域也有不少應(yīng)用。同時(shí),本儀器也是各大專院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。?　　日本PHL公司應(yīng)力雙折射儀系統(tǒng)特點(diǎn)：　　1、操作簡單/快速測定：獨(dú)特的偏振成像傳感器進(jìn)行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布。　　2、2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的強(qiáng)大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性�！　�3、大相位差測試能力：通過對三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。 [詳情]

塑料光學(xué)制品具有附加值高、成型加工難度大、經(jīng)濟(jì)效益顯著的特點(diǎn),有巨大的市場需求和良好的發(fā)展前景。但塑料光學(xué)產(chǎn)品,在傳統(tǒng)的注塑成型時(shí)一方面易產(chǎn)生流痕、銀紋、縮陷、氣孔等外觀缺點(diǎn);另一方面,容易產(chǎn)生殘余應(yīng)力、大雙折射率差以及翹曲變形等尺寸和性能缺點(diǎn),且?guī)追N缺點(diǎn)互相關(guān)聯(lián)。因此如何分析預(yù)測、評價(jià)、減少/清理塑料光學(xué)產(chǎn)品的殘余應(yīng)力,提高制品的成型品質(zhì)是塑料光學(xué)材料成型過程中所要解決的關(guān)鍵性問題,同時(shí)對提升塑料工業(yè)的加工水平、促進(jìn)產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)調(diào)整有重要意義。注塑產(chǎn)品雙折射(應(yīng)力)測量例: [詳情]

日本Photonic Lttice公司針對市場的需要，開發(fā)除了新款的紅外波段的應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)，對分析紅外光學(xué)產(chǎn)品提供了幫助，新款的WPA-NIR在以往的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上，更加的小型化，操作簡單、測量速度快，可搭配流水線使用。 [詳情]

LIMO擁有先進(jìn)的光學(xué)解決方案和的激光系統(tǒng),使成為激光加工工藝和應(yīng)用中的關(guān)鍵技術(shù)的提供者，運(yùn)用LIMO微光學(xué)技術(shù)，可以將激光光束整形為線形，方形和其他定制輪廓，為加工材料提供了一種革命性的方法，同時(shí)可增強(qiáng)材料現(xiàn)有的性能，我們的核心競爭力包括以下部分：光學(xué)器件：我們使用高規(guī)格的玻璃或晶體，通過晶圓制造工藝來制作光學(xué)鏡片，一次性即可生產(chǎn)出數(shù)以千計(jì)的微透鏡，并保證始終如一的高質(zhì)量和性能。光束整形系統(tǒng)：可以提供集成為光學(xué)系統(tǒng)的緊湊模塊，并裝配于現(xiàn)有的生產(chǎn)設(shè)備中，實(shí)現(xiàn)可靠的工藝過程管理。完整光學(xué)解決方案：完整的線性光束整形系統(tǒng)和半導(dǎo)體激光解決方案，是材料及材料大面積的表面可以被快速的處理。我們在上述每個(gè)技術(shù)領(lǐng)域可以提供多元化的可定制產(chǎn)品，同時(shí)有能力提供完整的光學(xué)解決方案，使我們在不同行業(yè)里成為廣大企業(yè)的強(qiáng)大合作伙伴。 [詳情]

隨著技術(shù)的發(fā)展，光學(xué)薄膜的光學(xué)性能也在廠家的不斷提高，市場需要更高等的產(chǎn)品，其中在液晶面板吃起的成產(chǎn)中，也液晶貼的的一層膜的配向角度的優(yōu)良很大程度上影響生產(chǎn)出來的液晶面板的顯示效果的好壞。關(guān)于如何了解這一層配向膜（PI）的配向角度，研發(fā)人員一直沒有合適設(shè)備來測量， 近期，日本的phl廠家?guī)�來這款通過測量雙折射的方法來檢驗(yàn)配向角度的設(shè)備。測量示例：通過WPA-200的檢驗(yàn)，可以知道產(chǎn)品的雙折射大小和方向，內(nèi)應(yīng)力的分布情況，在經(jīng)過分析得到數(shù)據(jù) [詳情]

l??無法衡量壓力？我們正在測量的是延遲（相位差）。在光彈性效應(yīng)中，當(dāng)將應(yīng)力和厚度施加到每種材料的光彈性常數(shù)時(shí)，會(huì)發(fā)生延遲。數(shù)據(jù)處理選項(xiàng)還具有輸入光彈性常數(shù)和厚度並以應(yīng)力為單位顯示它們的功能。但是，它受形狀的影響，因此我們不能保證數(shù)值。l??不能測量折射率分佈（折射率差）嗎？我無法衡量。我們測量的不是折射率的絕對值，而是取決於偏振方向的折射率差。l??你可以測量甚至是半透明的嗎？這取決於程度。要求進(jìn)行演示評估以親自體驗(yàn)。請事先了解，測量值可能會(huì)因半透明程度而有所不同。l??分辨率是多少？您可以通過上下移動(dòng)測量頭來改變視野。範(fàn)圍決定分辨率。在PA中，水平方向上為1120像素。l??測量環(huán)境是否需要暗室？不需要。但是，室內(nèi)照明可能會(huì)反射到樣品上並影響測量值。l??我想通過結(jié)合自動(dòng)平臺來自動(dòng)測量。外部控制選項(xiàng)允許您從外部程序控制測量設(shè)備（PA / WPA）。l??可以提供定制支持嗎？在與客戶協(xié)商後，我們將盡可能地做出回應(yīng)。請我們聯(lián)繫。l??我不知道是否有雙折射。將樣品夾在兩片偏光膜之間，然後嘗試將其向前旋轉(zhuǎn)。如果亮度或顏色隨旋轉(zhuǎn)而變化，則可以確定存在雙折射。l??高層度方向上的相位差分佈可能嗎？不能l??可以測量磨砂玻璃嗎？儘管可以執(zhí)行測量，但根據(jù)散射程度，可能無法輸出正確的值。l??能測量紅色樹脂成型品嗎？由於測量波長是綠色波長，因此無法進(jìn)行測量。（綠色不通過。）l??我可以自由更換鏡頭嗎？我們對每個(gè)鏡頭進(jìn)行校正。除附帶的鏡頭外，請勿使用其他鏡頭。l??我想移開頭部並用另一個(gè)光源進(jìn)行測量。不保證。 [詳情]

　　透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因，其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力，引起雙折射，晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理，通過對樣品的光程差的定量測定，確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能測定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級別，是光學(xué)儀器制造業(yè)不可缺少的儀器，也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具，廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域�！　�應(yīng)力雙折射儀的原理：　　當(dāng)光穿透具有雙折射特性的透明物質(zhì)時(shí)，光的偏光狀態(tài)會(huì)產(chǎn)生變化。換句話說，比較光穿透物體前之后的偏光狀態(tài)，即可評估物質(zhì)的雙折射。該設(shè)備裝配的偏光感應(yīng)器，使用了敝公司特有的Photonic結(jié)晶組裝而成，能瞬間將偏光資訊以影像方式提取保存。再搭配專屬的演算、畫像處理軟件，能將雙折射分布數(shù)據(jù)定量化，變成可以分析的資料�！　�應(yīng)力雙折射儀用途：　　應(yīng)力儀是用來檢查透明物體內(nèi)應(yīng)力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學(xué)玻璃、光學(xué)儀器、玻璃制品、塑料制品等工業(yè)得到廣泛應(yīng)用，而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標(biāo)的檢驗(yàn)方面也占有重要地位，在水晶飾品制作、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)領(lǐng)域也有不少應(yīng)用。同時(shí),本儀器也是各大專院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備�！　�應(yīng)力雙折射儀系統(tǒng)特點(diǎn)：　　1、操作簡單/快速測定：獨(dú)特的偏振成像傳感器進(jìn)行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布�！　�2、2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的強(qiáng)大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性�！　�3、大相位差測試能力：通過對三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差 [詳情]